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德州仪器打造低电压65纳米超底功耗SRAM
来源:通信产业报
日前,美国麻省理工学院(mit)的研究员将在的固态电路会议上展示一款采用德州仪器(ti)*65纳米cmos工艺制造的超低功耗(ulp)256kb静态随机存取存储器(sram)测试器件。
该款sram专为要求高性能、低功耗的电池供电设备开发而成,能够提供业界zui低的电压,而且设计人员正在考虑为该产品采用ti的smartreflex电源管理技术来延长移动产品的电池使用寿命。mit与ti联合开发的sram器件建立在ti*的65纳米工艺基础之上,其集成的多种技术能够充分满足业界日益增长的低功耗要求。
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