STM I-Z曲线
i（z）光谱学与lbh光谱学有关，可用于提供有关表面的微观功函数的z依赖性的信息。i（z）光谱学的下一个重要用途是测试stm笔尖质量。stm中
的隧穿电流i t随着样本间距z为
我ť〜exp（-2kz），
衰减常数由下式给出
2k = 2（2mu / h2）1/2。
u是平均功函数u av =（u s + u t）/ 2，其中u t和u s分别是功函数和样本功函数。
在i（z）光谱学中，我们测量stm图像每个像素处的隧道电流与样品间距的关系。
对于u av = 1 ev，2k = 1.025 a -1 ev -1。尖锐的i（z）依赖性有助于确定吸头质量。根据经验可以确定，如果在z <3 a的情况下隧道电流u t下降至一半，则认为该非常好；如果在z <10 a的情况下，则使用该可以在hopg上实现原子分辨率。
如果在z> 20 a的情况下发生此，则不应使用该，而必须将其更换。
references
1 . g. binnig and h. rohrer: surf. sci. 126 (1983) 236. rep. prog. phys. 55, 1165-1240 (1992).
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1 . g. binnig and h. rohrer: surf. sci. 126 (1983) 236. rep. prog. phys. 55, 1165-1240 (1992).
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