四探针电阻率测试仪有哪些性能特点?

性能特点
超大液晶人性化操作界面
多种测量参数可选
测量数据自动保持功能
超快测量并显示读数
量程有自动和手动双模式
档号显示及档计数功能
兼容多种材料测量。
专业的通讯接口可以与 pc 进行数据通讯及对仪器的远程控制显示器 (电脑和pc软件是选配)高清 lcd 液晶显示:显示位数 6 位
测量范围和精度
电阻率 1µω・cm -2mω・cm
方块电阻 10µω/□ -2mω/□
模拟电阻 1µω-2mω
精度 电阻率、方阻:4%;模拟电阻:0.1%;
测量功能
量程方式 自动,保持
测量速度 快速: 10 次/秒,中速: 5 次/秒,慢速: 2 次/秒
触发方式 内部,手动,外部
分选和接口
分选功能 内建比较器:合格、上超和下超
讯响 合格,不合格,关闭
接口配置 rs-232c 接口/handler/usb device(选件)
一般规格
操作环境 0°c -40°c ,≤90%rh
保证精度环境 23±5℃,≤80%rh
电源要求 198v -242v(ac),47.5hz -63hz
功耗 ≤30 va
可根据不同材料特性需要,有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的
电阻率和方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测试柔性材料导电薄膜、pe 膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜(ito 膜)、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。
应用
 金属片、导电金属箔材料、金属箔上涂层
 单晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅锭、硅块料
 石墨烯、锂电池电极、氢燃料电池双极板、太阳能电池片


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