ortec-online/GEM P型同轴高纯锗（HPGe）辐射探测器的特征是什么？
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ortec gem辐射探测器是一款p型同轴hpge探测器，适用于~40 kev及以上典型能量范围的γ能谱测量。
gem系列探测器特征：
效率达150％，还可应要求提高。
出色的能量分辨率和峰值对称性。
smart偏压选件。
恶劣环境（-he）选件。
低本底碳纤维端盖选件。
外加前置放大器选件适用于超高计数率应用。
广泛的配置灵活性，poptop、streamline和机械冷却选项。
可选附件：
集成低温冷却系统选件（-ics、-ics-e）集成低温冷却系统（ics）低温恒温器配备有低温冷却器，不受回温循环的影响。与使用标准型低温恒温器探测器的典型三天损失不同，ics可以立即重新冷却，最大限度地减少因临时回温而损失的任何时间。ics可配备内部前置放大器（-ics）或外部前置放大器（-ics-e）。
集成低温冷却低本底系统（-ics-lb）低本底探测器配有内置前置放大器、高纯铝端盖、高纯铝窗、高纯铝内杯，以及用于ics集成低温冷却系统的低本底铜安装座。较低本底的材料可在特定计数时间内降低最小可探测活度（mda），这为在低本底应用中增加样品通量提供了另一种方法。
smart-1选件 (-smp)smart-1选件用于监控和报告重要的系统功能，还可保存授权码并在稍后报告该码。它包括高压，因此所有仪器都不需要外部高压电源。smart-1采用坚固的abs模塑塑料外壳，并通过模塑应变消除密封电缆牢牢地固定在探测器端盖上。这可避免探测器因水分泄漏到高压连接器中而受到严重损坏。smart-1可以放置在任何方便使用的位置，不会干扰屏蔽体或其他硬件安装。
超高计数率前置放大器选件（-pl）超高计数率前置放大器（晶体管复位前置放大器）可在1 mev下处理高达1,000,000个计数/秒的输入计数率，并具有无反馈电阻的额外优势。
恶劣环境选件（-he）恶劣环境选件是一个坚固的碳纤维端盖，配有密封的电子设备外壳，并带有可更换的干燥剂包，用以确保电子设备保持100％干燥并指示何时需要更换干燥剂包。直径为76 mm或更大poptop封装设计中的gem系列探测器可配备此选件。
远端前置放大器选件（-hj）此选件让所有前置放大器和高压接头位于屏蔽之外，并将前置放大器和高压滤波器从ge晶体的“视线”移除。对于低本底应用，此选件消除了可能增加本底的前置放大器或高压滤波器组件。
低本底碳纤维端盖选件（-rb、-lb-c和-xlb-c）低本底碳纤维端盖与al、mg和cu一样坚固，产生的本底少，不被腐蚀，并且可以检测低于10 kev的能量。这种较低的本底材料可在特定计数时间内降低最小可探测活度（mda），这为在低本底计数应用中增加样品通量提供了另一种方法。碳纤维的较低z可提供低能量窗口，而不会产生在大多数合金中发现的额外本底。
关键词：低温恒温器 冷却器 恒温器 高压电源 电子设备
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恶劣环境选件（-he）恶劣环境选件是一个坚固的碳纤维端盖，配有密封的电子设备外壳，并带有可更换的干燥剂包，用以确保电子设备保持100％干燥并指示何时需要更换干燥剂包。直径为76 mm或更大poptop封装设计中的gem系列探测器可配备此选件。
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低本底碳纤维端盖选件（-rb、-lb-c和-xlb-c）低本底碳纤维端盖与al、mg和cu一样坚固，产生的本底少，不被腐蚀，并且可以检测低于10 kev的能量。这种较低的本底材料可在特定计数时间内降低最小可探测活度（mda），这为在低本底计数应用中增加样品通量提供了另一种方法。碳纤维的较低z可提供低能量窗口，而不会产生在大多数合金中发现的额外本底。
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