哪些因素可以影响透射电子显微镜?

透射电子显微镜(transmission electron microscope, 简称tem)是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。作为实验室常用科学仪器设备,可以清晰地观察到生物样品的纳米级微观内部结构,目前已广泛应用于各类生物学科的分析研究。
影响透射电子显微镜的三个因素分别是:
1、分辨率大孔径角的磁透镜,100kv时,分辨率可达0.005nm。实际tem只能达到0.1-0.2nm,这是由于透镜的固有像差造成的。提高加速电压可以提高分辨率。已有300kv以上的商品高压(或超高压)电镜,高压不仅提高了分辨率,而且允许样品有较大的厚度,推迟了样品受电子束损伤的时间,因而对高分子的研究很有用。但高加速电压意味着大的物镜,500kv时物镜直径45-50cm。对高分子材料的研究所适合的加速电压,最好在250kv左右。
2、放大倍数电镜最大的放大倍数等于肉眼分辨率(约0.2mm)除以电镜的分辨率0.2nm,因而在106数量级以上。
3、衬度 a.样品越厚,图像越暗;
b.原于序数越大,图像越暗;
c.密度越大,图像越暗;
其中,密度的影响最重要,因为高分子的组成中原于序数差别不大,所以样品排列紧密程度的差别是其反差的主要来源。

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