天瑞仪器RoHS测试仪详情介绍
天瑞仪器rohs测试仪可用于海关、、第三方测试机构等专业测试机构qa检验，电子通信、文体设备、纺织品、皮革、食品、家用电器等制造业的qc，iqc、ipqc、qa检验。
【rohs检测仪】是一种检测rohs的检测仪，原理是利用x射线检测rohs标准规定中的元素的含量。目前市场上常见的类型是x射线荧光分析仪，又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见。
分析原理：
rohs检测仪就是【x射线荧光光谱仪】，其分析原理也就是x射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散x射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
q=ke
式中，k为入射射线的光子能量；q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
技术原理：
放射性同位素源或x射线发生器放出的x射线或γ射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的x射线--特征x射线。
不同元素特征x射线能量各不相同，依此进行定性分析；再根据特征x射线强度线强度大小，可进行定量分析。
可用函数关系式表示为：
c=f(k1i1, k2i2, k3i3...)
式中：kn(n=1,2,3…)表示第n号元素的待定系数；in(n=1,2,3…)表示第n号元素释放的特征x射线强度，由此可知只要通过标定确定系数kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。
技术参数：
元素分析范围：钠(na)－铀(u)
元素含量分析范围为1 ppm－99.99%
工作稳定性：总荧光强度为0.1%
测量时间：60-200秒
温度适应范围：15℃－30℃
电源：交流220v±5v（建议配置交流净化稳压电源）
可同时分析36种元素
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式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
q=ke
式中，k为入射射线的光子能量；q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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不同元素特征x射线能量各不相同，依此进行定性分析；再根据特征x射线强度线强度大小，可进行定量分析。
可用函数关系式表示为：
c=f(k1i1, k2i2, k3i3...)
式中：kn(n=1,2,3…)表示第n号元素的待定系数；in(n=1,2,3…)表示第n号元素释放的特征x射线强度，由此可知只要通过标定确定系数kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。
技术参数：
元素分析范围：钠(na)－铀(u)
元素含量分析范围为1 ppm－99.99%
工作稳定性：总荧光强度为0.1%
测量时间：60-200秒
温度适应范围：15℃－30℃
电源：交流220v±5v（建议配置交流净化稳压电源）
可同时分析36种元素
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