X射线镀层测厚仪的原理和应用
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用x射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量精度可达到相对误差±1.5%（1微米厚度）,±0.01%(成分)，与传统的磁性测厚仪相比，性能上有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且性价比高，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
工作原理：
镀层测厚仪是将x射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线只有45-75w左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
应用领域：
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
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