MC方案|钙钛矿薄膜厚度的测量

钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能,因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。特别地,人们发现,当钙钛矿的厚度小于400nm时,钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度;而当钙钛矿的厚度大于400nm时,效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本应用说明中,我们使用fr工具测量钙钛矿薄膜的厚度。
测量方法:用于表征的样品是两种不同厚度的ch3nh3pbbr3钙钛矿薄膜,它们位于标准ito/sio2/soda-lime基底上,如示意图1所示。 使用fr-basic vis / nir进行反射测量,在350-1020nm的光谱范围内操作。
结果:两种样品的典型获得的反射光谱(黑线)和拟合的反射光谱(红线),如fr监控软件所示,分别在图2a)和b)中所示。 两种测量方法的拟合在500-750nm光谱范围内进行,样品1中钙钛矿薄膜的厚度在516.9nm处测量,而样品2中的厚度在394.4nm处测量。
图2a):样品1的实验和拟合反射光谱。在515nm处测得的厚度
图2b):样品2的实验和拟合反射光谱。在392nm处测得的厚度。
结论:对钙钛矿薄膜厚度测量的基本性能进行了验证。
reference:
1 k. wang, c.liu, p. du, l. chen, j. zhu, a. karim, and x. gong, “efficiencies of perovskitehybrid solar cells influenced by filmthicknessand morphologyof ch3nh3pbi3-xclx layer,” org. electron. physics, mater. appl., vol. 21, no. february, pp.19–26,2015.
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