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pulstec/s-Laue X射线单晶取向测量装置特征?
特征如下:
laue 相机节省空间且易于操作。
可以高速获取单晶材料的 x 射线衍射(劳厄斑)图像。
这是一种桌面型,结合了风冷式 x 射线发生器和高灵敏度探测器。
x 射线垂直向下入射,因此可以轻松设置样品。
使用显微镜可以进行精确对准。
紧凑轻便,节省空间。
使用示例
主平面方向的测量
检查并调整切割方向
结晶度评价
晶体生长、加工相关
半导体器件制造和开发
用途/特长:
方位·调整确认结晶
空冷·通过小型化节省空间
结晶性的评价
测定简单操作·高速
x射线单晶方位测定装置s-laue
桌面型任何人简单测量
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