公司简介:
jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动z运动(afpp)用于进行四点探针测量。
afpp可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300毫米晶圆锭250毫米高(厚的样品安置在请求)。
可以使用afpp独立提供的电源适配器,或者可以动力和由jandel rm3000使用单一铅连接这两个工具之间。
英国jandel可调节高度自动探头产品类别:
l jandel四探针探头
l jandel四探针
l jandel探头
l jandel探针台
主要型号:
设备尺寸
1.可调节高度测试台:w×l×h(mm)320×370×8
2.afpp主机:w×l×h(mm)64×215×67
3.可调节高度轴杆:d(mm)19;l(mm)200(可定制额高度到1000mm)
a-d型号和e-h型号
产品介绍:
l 可测晶片直径:直径d≤300mm
l 可测晶片厚度:高度h≤250mm
l 自动停机:具有接触到样品的传感器(通过传感器检测接触到样品)
l 手动控制:远程控制
l jandel-rm300能够提供电源和样品接触
优势特点:
系统配置
组成部件(产品配置):
1.测试台——1个
2. afpp主机——1个
3.可调节高度的轴杆——1根
4.四探针探头——1个
5.电缆线——一根
英国jandel可调节高度自动探头主要应用:
用于半导体行业以及大学,实验室工作和研究应用的电阻率测量设备。
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